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电子拉力试验机的分类及产品介绍及试验方法

发布时间:2023-01-15 08:30:02人气:

电子拉力试验机的分类及产品介绍及试验方法(图1)

电子拉力试验机的分类

  电子拉力试验机主要用于金属材料、非金属材料及制品的抗拉强度测试,另加附具可完成材料的压缩、弯曲 、剪切、撕裂等力学性能。  电子拉力试验机分类如下:  1、防水卷材、防水涂料拉力试验机,适用于防水材料、防水涂料的抗拉、撕裂、剥离、延伸、剪切等力学性能。主要规格5KN  2、橡胶制品拉力试验机,适用于橡胶及橡胶制品、电线电缆、PVC管材、胶带、胶粘剂等产品的拉伸强度、拉断伸长率、断裂拉伸强度、撕裂等力学性能。主要规格2KN、5KN  3、打包带、编织袋拉力试验机,适用于编织袋、打包带等产品的拉伸强度、拉断伸长率、断裂拉伸强度、撕裂等力学性能检测。主要规格2KN、3KN、5KN  4、塑料薄膜、纸张拉力试验机,适用于塑料薄膜、纸张纸板、非织造布、胶粘剂、胶带等产品的拉伸强度、拉断伸长率、断裂拉伸轻度、撕裂等力学性能测试。主要规格200N、300N、500N  5、线缆、绳、金属丝拉力试验机,适用于电线、电缆、绳、铁丝、钢丝等柔性材料的拉伸强度、拉断伸长率、断裂拉伸强度等力学性能测试。

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  电子拉力试验机适用于塑料薄膜、复合材料、软质包装材料、塑料软管、胶粘剂、胶粘带、不干胶、医用贴剂、保护膜、离型纸、组合盖、金属箔、隔膜、背板材料、无纺布、橡胶、纸张纤维等产品的拉伸、剥离、变形、撕裂、热封、粘合、穿刺力、开启力、低速解卷力、拨开力等性能测试。

  电子拉力试验机采用机电一体化设计,主要由测力传感器、微处理器、负荷驱动机构及打印机构成。LCD大屏液晶显示,PVC操作面板,高精度七档试验速度;台式机型,造型与涂装均充分考量了现代工业设计、人体工程学之相关原则。

  参数设置:可设置试样长度、宽度、厚度,试验速度,试验时间等。打印:微型打印机打印+计算机打印。查看:查看已做过的试验数据。清除:清除试验结果。标定:进行测力系统的校验。通信功能:试验报告的存储、查询、输出功能。

  电子拉力试验机测试试验方法:

  将试样装夹在夹具的两个夹头之间,两夹头做相对运动,通过位于动夹头上的力值传感器和机器内置的位移传感器,采集到试验过程中的力值变化和位移变化,从而计算出试样的拉伸、撕裂、变形率等性能指标。

  拉伸试验拉伸试验(应力-应变试验)一般是将材料试样两端分别夹在两个间隔一定距离的夹具上,两夹具以一定的速度分离并拉伸试样,测定试样上的应力变化,直到试样破坏为止。拉伸试验是研究材料力学强度*广泛使用的方法之一,需要使用恒速运动的拉力试验机。按载荷测定方式的不同,拉力试验机大体可以分为摆锤式拉力试验机和电子拉力试验机两类,目前使用较多的是电子拉力试验机。

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四探针电阻率测试仪是运用四探针测量试验方法的多用途综合测量装置;

可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻,主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。

广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。

电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多,四探针法是一种广泛采用的标准方法。

它的优点是设备简单、操作方便,精确度高,对样品的形状无严格要求。

*常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。

四探针电阻率测试仪测试四探针笔方法:

一般情况下,更换钢针之类,不需要拆开探头,只需要用拔出要更换的钢针,再重新安装新针,如果断针在孔内并且不拆开难以取出,必须按照以下步骤进行操作:

1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝,轻轻脱下尾部航空插口,保证探针头部旋转时同步旋转,防止扭线断线,短接;

2、轻轻拧开探针头子,然后小心将铜片拉出,记住七片绝缘片与铜片之间的位置,(四片铜片每片间夹一片绝缘片,两边的铜片外侧各两片),将断针从铜片卡口座里取下即可;

3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱,铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列,并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列,以免短接;

4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子,并先将探针头子拧紧,再将尾部航空头插上,并且旋紧小螺丝;

5、将针装好,注意针头针尾方向,尖头为探针头部。

仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。

仪器采用了*电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。

本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

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