数字存储示波器的基本试验方法如图所示，其工作过程一般分为存储和显示两个阶段。在存储阶段，首先对被测模拟信号进行采样和量化，经A/D转换器转换成数字信号后，依次存入RAM中，当采样频率足够高时，就可以实现信号的不失真存储。当需要观察这些信息时，只要以合适的频率把这些信息从存储器RAM中按原顺序取出，经D/A转换和LPE滤波后送至示波器就可以观察的还原后的波形。
普通模拟示波器 CRT 上的 P31 荧光物质的余辉时间小于 1ms。在有些情况下，使用 P7 荧光物质的 CRT 能给出大约 300ms 的余辉时间。只要有信号照射荧光物质，CRT 就将不断显示信号波形。而当信号去掉以后使用 P31 材料的 CRT 上的扫迹迅速变暗，而使用 P7 材料的 CRT 上的扫迹停留时间稍长一些。
那么，如果信号在一秒钟内只有几次，或者信号的周期仅为数秒，甚至信号只猝发一次，那又将会怎么样呢？在这种情况下，使用我们上面介绍过的模拟示波器几乎乃至于完全不能观察到这些信号。
所谓数字存储就是在示波器中以数字编码的形式来贮存信号。当信号进入数字存储示波器，或称 DSO 以后，在信号到达CRT 的偏转电路之前（图1），示波器将按一定的时间间隔对信号电压进行采样。然后用一个模/数变换器（ADC）对这些采样值进行变换从而生成代表每一个采样电压的二进制字。这个过程称为数字化。
获得的二进制数值贮存在存储器中。对输入信号进行采样的速率称为采样速率。采样速率由采样时钟控制。对于一般使用情况来说，采样速率的范围从每秒 20 兆次（20MS/s）到 200MS/s。存储器中贮存的数据用来在示波器的屏幕上重建信号波形。所以，在DSO中的输入信号接头和示波器 CRT 之间的电路不只是仅有模拟电路。输入信号的波形在 CRT 上获得显示之前先要存贮到存储器中，我们在示波器屏幕上看到的波形总是由所采集到数据重建的波形，而不是输入连接端上所加信号的直接波形显示。
在复杂的嵌入式系统中，通常需要同时监测时域和频域中的多个信号。尽管基带数字信号、射频信号和模拟信号是相互关联和依存的，但是基于传统的调试方法，人们常常无法描述或捕捉它们之间的关系。采用微控制器实现的RF信号反馈控制、低速串行总线、严格的时序关系，以及RF和数字信号之间电磁干扰等都是原型设计阶段令人头痛的问题。通常可以使用数字示波器分析这些信号所产生的问题，但是大多数开发人员却试图寻找其它的仪器。虽然*终可能完成了工作，但是却花费了大量时间，还需要非常丰富经验。将模拟信号、数字信号和RF信号的测试功能整合在一台仪器中，可以降低对不同设计项目所需要的时间和专家经验。
本文介绍的示波器拥有多个模拟通道(既可用于时域又可用于频域)和数字通道(用于逻辑分析和协议分析)。本文描述如何利用该示波器查看和调试系统中的不同信号，以及共同作用使得该系统可以正常工作的大量关键因素。
对于大量新型设计来说，频域分析是一种关键的调试功能。但是，频域分析必须与时域、数字信号或逻辑通道保持严密的同步。频谱分析对调试工作的价值通常取决于分析速度(更新速度)，因此信号的捕捉和发现极富挑战性。此外，仪器还必须具备足够高的频域和时域灵敏度，以便能够捕捉到信号，如因电磁干扰或其它干扰所产生的频域杂散信号等微小信号。为了获得可以用来调试支持多种信号类型的复杂系统的有价值信息，必须基于时间事件、频率事件或数字码型实现精确触发。
快速傅立叶变换
任何信号都是关于时间和幅值的函数。因此，不仅需要捕捉信号幅值，而且还要捕捉信号如何随时间而变化。傅立叶变换是将时域函数变换成频域频谱的主要技术。该变换可以为从某个时域波形中采样的信号给出某个时间点的频谱快照。它使得瞬时频谱可以测量，从而可以测量某个信号在任何时刻的频率分量。据此，可以观察频谱随时间而发生的变化，了解什么时候存在以及什么时候不存在干扰，时域事件和频域事件之间是如何关联的。
在离散傅立叶(DFT)变换中，一定数量时域信号样点被转换成一定数量的频率样点，每一个频率样点都由时域样点通过算法函数计算得出。快速傅立叶(FFT)变换是一种实现离散傅立叶变换的高效方法。该方法类似于离散傅立叶变换，可以将一定数量的离散采样变换至频域。示波器通常利用快速傅立叶变换的采样技术，将时域采样变换至频域。
大多数现代示波器实现的传统快速傅立叶变换方法存在一个限制，尽管人们只对一部分频率范围感兴趣，但是，FFT的计算过程是针对整个采样信息进行的。这种计算方法效率低下，使得整个过程速度较慢。数字下变频(DDC)解决了这一问题，其方法是将目标频带宽度下变频至基带并以较低采样率对其重新采样，实现了在小得多的记录长度上进行快速傅立叶变换。因此，其计算速度更快、更加接近实时性能，也具备更高灵活性。这种灵活性通常可以转变成多域调试应用中所要求的功能。除此之外，由于实际变换是在基带频率上完成的，因此，这种方法还可以实现过采样的优点。这进一步改善了在目标频带宽度上的信噪比。
由于FFT频谱产生于原始的时域信号，因此通过对同一信号进行时间和频率上的分析，可以获得大量的有用信息。某个信号在时域中可能是稳定和正确的，在频域分析时可以发现噪声变大、未知的杂散信号以及其他在时域分析中不易发现的异常事件。在某些示波器上还可以使用时域选通分析功能。借助该功能，可以实现更强大的检测功能。通过选通方式进行 FFT 变换或者限制在某个时间记录的特定位置作FFT，可以在指定的时间点观察傅立叶变换，从而有助于确定产生问题的时间点。获得了干扰信号的周期或频率之后，可以更加准确、快速排除差错或者故障。
*后需要指出的是，不将频谱分析限制在某个特定单一通道上通常也是非常重要的。某些情况下，事件可能影响多个通道的信号，对多个通道同时进行频谱分析可以提供更多的测试信息。如在时间上相互关联的被干扰信号和干扰信号的频谱分析视图可以为问题分析提供有力证据。
动态范围
合适地利用FFT实现信号分析，还必须了解示波器的动态范围。高动态范围、无杂散信号等特点对于正确地进行时域采样并将其转换至频域至关重要。示波器的动态范围不可避免地取决于示波器模数转换器(ADC)的性能及其有效位数(ENOB)。有效位数越多，动态范围越高，信噪比(SNR)越大，精度越好。理想ADC可以将给定电压转换至2K个量化等级之一；其中，对于8位ADC，K为8，其对应的量化等级有256个。然而，ADC存在偏置误差和增益误差、非线性误差和噪声，这些均会影响其动态范围，从而，使得其有效位数由8降至4至7之间的某个值。此外，示波器也不仅仅只包括一个模数转换器，它还有前端放大器和滤波器等，这些组件都会带来噪声，进一步劣化总体ENOB。因此，为了实现可测量动态范围的*大化，必须综合考虑整个信号采样链上的全部组件。
大量示波器采用多个低速ADC的交织采样技术实现高采样率。但是，这种方法会带来交织杂散信号，以及与整个采样系统中速度*低的ADC的采样率相关的频率分量。这些频率分量及其能量进入仪器后，会形成更强、更多的杂散信号，使得针对精确频谱信息的测量更加困难。了解频率信号采样通道的无杂散动态范围，可以有助于获得理想的测量结果。
*后需要指出的是，整体灵敏度或者模拟前端放大器的增益倍数对于频谱分析通道处理小信号(例如，电磁干扰所产生的那些信号)的灵敏度具有决定性作用。一些示波器的设置可以小至1mv/格。但是这些设置可能是基于放大显示而非真正的放大器增益，因此它们可能存在放大误差，并且可能会减小示波器的带宽。为了观察电磁干扰以及其它干扰信号对带宽的可能影响，必须将放大器的增益下调至1mV/格。增益为1mv/格的优质放大器可以提高对微小信号作FFT分析时的观察能力。
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